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光纖延遲精密測量儀
光纖延遲精密測量儀具有光纖延時測量精確度高、測量量程范圍大、穩(wěn)定性與可靠性高、使用方便與操作簡單的特點,主要應用于光通信、DPSK/QPSK、光纖延遲線干涉儀延遲量的精密測量等領域
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詳細信息

光纖延遲精密測量儀

一、光纖延遲精密測量儀的定義:
光纖延遲精密測量儀的工作原理機制是利用頻域上將光相對延遲量測量轉換為射頻頻率測量的方法,由于基準射頻頻率精度與穩(wěn)定性很高,因而光延遲的測量可以取得很高的精度。


二、光纖延遲精密測量儀的特性:

光纖延時測量精確度高
測量量程范圍大
穩(wěn)定性與可靠性高
使用方便與操作簡單


三、光纖延遲精密測量儀的應用領域:

光通信
DPSK/QPSK
光纖延遲線干涉儀延遲量的精密測量
單根光纖傳輸線/光纖延遲線或光纖跳線光延時量測量
干涉型結構中兩路光程相對差分延時最精密測量分析


四、光纖延遲精密測量儀的參數(shù)

    參數(shù)指標
    工作模式
干涉儀雙光纖相對差分延時測量模式
測量兩臂干涉型光纖傳感系統(tǒng),如:邁克爾遜結構與馬赫澤德結構中的兩路干涉臂的差分時間延時

單光纖鏈路延時測量模式

測量單光纖延遲鏈路的實際時間延時
    典型測量范圍
10ps-3000ns(針對干涉儀雙光纖相對差分延時測量情況)
0-6000ns(針對單光纖鏈路測量測量情況)
    相對測量不確定度(1σ)
干涉儀雙光纖相對差分延時模式
≤200fs(范圍>300ns)
≤100fs(范圍30-300 ns)
≤150fs(范圍3-30 ns)
≤200 fs(范圍<3ns)
單光纖延時測量模式
≤200 fs(范圍>300ns)
≤100 fs(0-300 ns)
    長時間相對穩(wěn)定性
≤107
    測試光路條件范圍
測試光路的接口適配器應于設備輸出端口匹配:如設備FC/APC,測試鏈路端口為FC/APC,設備端口FC/PC,測試鏈路端口為FC/PC;否則測試鏈路端需要轉接;
所測光鏈路插損范圍(1550nm波段)
臂長差測量模式
0-15dB
單光纖測量
0-12dB
    測量數(shù)據顯示與保存
測量終端顯示
10.6英寸屏幕尺寸
終端操作系統(tǒng)
安卓
    設備功耗
5W
    外形尺寸(體積)
38x26x15cm3
    設備重量
5kg
    供電要求
220V±20V,50Hz

測量穩(wěn)定性結果


測量穩(wěn)定性結果


備注:

以上是測量光纖長度為3.166米光纖跳線長度的測量穩(wěn)定性結果,方差1σ為17um,對應的延遲時間為不確定度<0.1ps(68%的測量結果落在平均值的±1σ以內)。



五、四川梓冠光電光纖延遲精密測量儀的訂購信息

型號:ZG-ODL-A-B

ZG-ODLA
B
1-雙光纖延時差測量
2-單光纖延時測量
3-雙光纖延時差測量與單光纖延時測量
FP=FC/PC
FA=FC/APC 
客戶指定



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